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桌子不能隨便糊弄!論試驗(yàn)桌對(duì)輻射騷擾測(cè)量的影響

點(diǎn)擊次數(shù):712  更新時(shí)間:2023-03-03

桌子不能隨便糊弄!論試驗(yàn)桌對(duì)輻射騷擾測(cè)量的影響

摘 要 :通過(guò)實(shí)驗(yàn)研究試驗(yàn)桌對(duì)輻射騷擾試驗(yàn)的影響,尋找測(cè)試數(shù)據(jù)差異產(chǎn)生的原因及解決方法。

實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,輻射騷擾測(cè)試時(shí)應(yīng)使用介電常數(shù)低的測(cè)試桌以減小不確定度。該研究對(duì)于電磁兼容測(cè)試中的輻射騷擾測(cè)量具有一定的參考價(jià)值和指導(dǎo)意義。

關(guān)鍵詞:輻射騷擾;試驗(yàn)桌;歸一化場(chǎng)地衰減;介電常數(shù)


隨著各國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)的推廣和實(shí)施,人們?cè)絹?lái)越重視產(chǎn)品的電磁兼容性問(wèn)題,各大電子設(shè)備制造商也越來(lái)越注重產(chǎn)品的電磁兼容性測(cè)試,特別是電磁輻射騷擾是否達(dá)到相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。在輻射騷擾測(cè)試中,場(chǎng)地對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響非常明顯。在不同的測(cè)試場(chǎng)地,相同的儀器儀表會(huì)得到不同的測(cè)量結(jié)果,所以各個(gè)暗室的測(cè)試數(shù)據(jù)存在著差異。EN55022:2010是歐洲旨在對(duì)適用范圍內(nèi)的信息技術(shù)設(shè)備無(wú)線電騷擾電平給出統(tǒng)一要求的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了騷擾限值、測(cè)量方法、運(yùn)行條件和結(jié)果的處理要求。EN 55022:2010 輻射騷擾試驗(yàn)中,臺(tái)式設(shè)備要求放置在非金屬的桌子上,如圖1所示。標(biāo)準(zhǔn)中只提到桌面的大小通常為1.5m×1.0m,而對(duì)試驗(yàn)桌的材質(zhì)沒(méi)有明確規(guī)定。由于不同材料制作的試驗(yàn)桌介電常數(shù)不同,導(dǎo)致輻射騷擾測(cè)試結(jié)果不同。本文就試驗(yàn)桌對(duì)輻射騷擾測(cè)量的影響進(jìn)行定量分析。


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一、試驗(yàn)桌對(duì)場(chǎng)地性能的影響

EN 55022:2010 規(guī)定,輻射騷擾試驗(yàn)要在開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)地進(jìn)行。開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)地應(yīng)平坦、無(wú)架空電力線、附近無(wú)反射物,場(chǎng)地足夠大,以便能在規(guī)定距離處放置天線,并使天線、受測(cè)設(shè)備和反射物體之間有足夠的間隔。但是隨著社會(huì)的發(fā)展,要尋找一塊符合要求的理想場(chǎng)地十分困難,所以電波暗室作為開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)的可替換場(chǎng)地被廣泛應(yīng)用。標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定,歸一化場(chǎng)地衰減(簡(jiǎn)稱NSA)是證明電波暗室是否能獲得有效結(jié)果的關(guān)鍵指標(biāo)。電波暗室是為模擬開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)地而建造的,電波暗室的歸一化場(chǎng)地衰減應(yīng)該與開(kāi)闊場(chǎng)地的差值小于4dB,以證明兩者的相似程度。

采用歸一化場(chǎng)地衰減試驗(yàn)方法驗(yàn)證試驗(yàn)桌對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響,如下圖所示↓↓↓

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在10m暗室無(wú)測(cè)試桌的情況下,用信號(hào)源分別通過(guò)雙錐天線(頻率30~250MHz)和對(duì)數(shù)天線(頻率250~1000MHz)發(fā)射電磁波。用接收機(jī)和另一組雙錐天線和對(duì)數(shù)天線測(cè)得一組場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)。歸一化場(chǎng)地衰減的計(jì)算公式

AN = V- VR - AFT - AFR - ΔAFTOT

式中:VT —— 發(fā)射天線輸入電壓,dBμV; VR —— 接收天線輸出電壓,dBμV; AFT —— 發(fā)射天線的天線系數(shù),dB; AFR ——接收天線的天線系數(shù),dB

ΔAFTOT —— 互阻抗修正系數(shù),dB(僅適用 于用偶極子天線測(cè)量、且測(cè)量距離為 3 m 時(shí)的情況, 除此之外,ΔAFTOT = 0

 


表 1 雙錐天線和對(duì)數(shù)天線測(cè)得的場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)

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 1 中,Aideal 為標(biāo)準(zhǔn)的歸一化場(chǎng)地衰減值,偏差為 Aideal 減去 AN,且均小于 4 dB。

然后分別在采用泡沫桌和木桌情況下測(cè)得另兩組場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù),如圖 3 和圖 4 所示。

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圖 3 泡沫桌場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)測(cè)量之一


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圖4 木桌場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)測(cè)量之一 

對(duì)三組場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,如圖 5 所示。 

 5 場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)比較


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二、試驗(yàn)桌對(duì)輻射騷擾試驗(yàn)測(cè)量結(jié)果的影響分析

現(xiàn)將同一信號(hào)源分別放置在泡沫桌(如圖 6 所示)和木桌(如圖 7 所示)上接收天線在距離信號(hào)源 10 m 處分別測(cè)量輻射騷擾。


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圖 6 泡沫桌場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)測(cè)量之二


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圖 7 木桌場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)測(cè)量之二

測(cè)試得到的數(shù)據(jù)如圖 8 所示。

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從圖 8 中可看出,在頻率范圍 700~900 MHz 輻射騷擾試驗(yàn)結(jié)果存在較大差異,其中在 800 MHz 處差異達(dá)到了 5.3 dB,而在 GB/T 6113.402-2006《無(wú)線 電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法規(guī)范第 4-2 部分:不確定度、統(tǒng)計(jì)學(xué)和限值建模測(cè)量設(shè)備和設(shè)施的不確定度》中提到,輻射騷擾測(cè)量的不確定度最大允許值為 5.2 dB。可見(jiàn)不同材質(zhì)試驗(yàn)桌造成的輻射騷擾差異超出了標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的不確定度。



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